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阻抗型石英晶體微天平檢測技術與特點說明

點擊次數:1863 更新時間:2021-03-27
   阻抗型石英晶體微天平基于耗散因子檢測技術的界面跟蹤探測系統(tǒng)進行分子與界面相互作用的研究,工作時,先將芯片放置于流動池中,將流動池固定于樣品平臺上,樣品平臺與電子單元和電腦主機連接,樣品通過蠕動泵流經流動池中的芯片上方;
 
  通過軟件設置,電子單元對芯片兩面施加一個電壓隨后斷開,芯片發(fā)生振動、產生電信號并傳輸回電子單元,振動的頻率和振幅記錄在軟件系統(tǒng)里;
 
  當樣品流經芯片上方,有物質吸附在芯片上或者將芯片上的物質沖走時,都會改變芯片的振動狀態(tài)并被記錄下來;
 
  芯片振動狀態(tài)與芯片上方物質的改變量,包括質量,厚度,密度和柔軟程度有關,所以軟件通過數學分析的方法可以獲取芯片上方物質的這些變量。
 
  測定吸附層質量,并同步提供粘彈性等結構信息。可測定多種不同類型表面的分子相互作用和分子吸附行為,同時可檢測分子的結構變化以及吸附與解析的動態(tài)過程。
 
  阻抗型石英晶體微天平的特點:
  1.測量低、中、高頻0.02~100MHz范圍內石英晶體諧振頻率、等效電阻。
 
  2.第四代升級產品,頻率電調諧,機內帶可調負載電容。
 
  3.頻率數顯,阻抗指針式顯示。
 
  4.頻率測量精度≤5PPM,可選配更高精度頻標。
 
  5.可選配八位頻率和四位PPM同時顯示,頻率上下限、分檔分選功能。
 
  6.上下限頻率分別設置,超出范圍(不合格)時自動聲光報警。
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